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温度試験装置

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高精度測定と量産性の両立

携帯電話や車載用デバイス(圧力センサ・吸気圧センサ・気圧センサ)などに使用される電子部品は、温度変化に対しての特性検査や調整などが必要となります。
ペルチェ素子を利用した高速インライン検査機からパッチタイプまで、精度の高い温度試験機を各種取り揃えております。
またデバイス温度特性の補正パラメーターの書き込みもお任せください。

温度特性検査装置

温度特性検査装置

商品概要・特徴

SMD型水晶振動子の温度特性検査をする高精度で高速な装置です。
温度制御にペルチェ素子を採用したことにより、均一な温度分布を実現しています。
キャリア冶具を変更するだけで、さまざまなワークサイズの測定が可能です。
従来型の恒温槽インラインタイプより、大幅に小型化されました。
温度特性検査装置は3槽または5槽タイプとなります。

DIP検査用温度試験装置

DIP検査用温度試験装置

商品概要・特徴

SMD型水晶デバイスのディップ検査装置です。
本装置は温度制御にペルチェ素子を採用し、-30~85℃の範囲で最小温度ステップを0.5℃にて正確な温度特性検査を行う事が可能です。
多数個同時測定により、高スループットを実現しています。
ロード・アンロード(分類)も全自動で行います。

簡易温度特性検査装置

簡易温度特性検査装置

商品概要・特徴

SMD型水晶振動子・発振器の温度特性検査をする装置です。
トレー冶具を変更するだけで、さまざまなワークサイズの測定が可能です。 また、さまざまな計測が可能でデバイスの設計・特殊ワークの温度特性を容易に検査する事が可能です。 製品管理・設計・開発を行う上で最適な装置です。

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